GALVANOTEST 可以測量 | 2000 | 3000 |
可以測量70種以上鍍層/基體組合 | ● | ● |
可以測量平面、曲面上的鍍層 | ● | ● |
可以測量小零件、導(dǎo)線、線狀零件 | ● | ● |
預(yù)置10種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金（需提供樣品確定） |
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預(yù)置9種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。 | ● |
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用戶可另設(shè)置8種金屬的測量參數(shù) |
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用戶可另設(shè)置1種金屬的測量參數(shù) | ● |
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測量機構(gòu)： |
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帶循環(huán)泵 |
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帶氣泵 | ● |
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測量面積： |
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密封墊 8 mm2 | ● |
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密封墊 4 mm2 | ● | ● |
密封片 1 mm2 | ● | ● |
密封片 0.25 mm2（涂鍍層面積幾乎小得看不見） |
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電解杯 0.25-16 mm2 （可選件） | ● | ● |
測量參數(shù)*優(yōu)化調(diào)整： |
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除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào) | ● | ● |
根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù) | ● | ● |
可用厚度標準樣板校準 | ● | ● |
可調(diào)整終點電壓，以抗干擾，適應(yīng)鍍層/基體之間的合金 | ● | ● |
GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲 |
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可存儲不同金屬測量參數(shù)的數(shù)目 | 10 | 18 |
可存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計值 | 2000 | 2000 |
儀器斷電后可保持**校準值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。 | ● | ● |
統(tǒng)計計算： |
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顯示6種統(tǒng)計值：均值、標準偏差、變異系數(shù)、*大、*小值、讀數(shù)個數(shù) | ● | ● |
立即或稍后顯示統(tǒng)計值 | ● | ● |
立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計值 |
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顯示、打印年、月、日、時、分 | ● | ● |
用于外設(shè)的計算機接口： |
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MINIPRINT 微型打印機接口 | ● | ● |
RS-232，PC計算機接口 | ● | ● |
連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口 | ● | ● |
電解液飽和報警指示 |
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測量的不確定性： |
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5%，在8mm2面積下，經(jīng)校準 | ● | ● |
電源： |
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110/220V，50/60HZ，10W | ● | ● |
測量范圍： |
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*大測量范圍：0.05-75μm | ● | ● |
產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
GALVANOTEST 2000庫侖電鍍層測厚儀利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層。符合*標準：DIN EN ISO 2177。
詳情介紹：
GALVANOTEST 2000庫侖電鍍層測厚儀利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層。符合*標準：DIN EN ISO 2177。